{"id":21176,"date":"2025-03-17T14:45:38","date_gmt":"2025-03-17T13:45:38","guid":{"rendered":"https:\/\/www.microtest.net\/microtest-group-launches-new-vip-ultra-tester-at-the-semiconductor-trade-fair-in-atlanta-usa\/"},"modified":"2025-03-17T14:47:20","modified_gmt":"2025-03-17T13:47:20","slug":"il-gruppo-microtest-lancia-il-nuovo-tester-vip-ultra-alla-fiera-dei-semiconduttori-di-atlanta-usa","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/microdev.filanda.it\/it\/il-gruppo-microtest-lancia-il-nuovo-tester-vip-ultra-alla-fiera-dei-semiconduttori-di-atlanta-usa\/","title":{"rendered":"IL GRUPPO MICROTEST LANCIA IL NUOVO TESTER \u201cVIP ULTRA\u201d ALLA FIERA DEI SEMICONDUTTORI DI ATLANTA (USA)"},"content":{"rendered":"<p><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"size-full wp-image-21165 aligncenter\" src=\"https:\/\/microdev.filanda.it\/wp-content\/uploads\/2025\/03\/Microtest_newsletter_Vip-Ultra_rev01-2-min.png\" alt=\"\" width=\"1200\" height=\"610\" srcset=\"https:\/\/microdev.filanda.it\/wp-content\/uploads\/2025\/03\/Microtest_newsletter_Vip-Ultra_rev01-2-min.png 1200w, https:\/\/microdev.filanda.it\/wp-content\/uploads\/2025\/03\/Microtest_newsletter_Vip-Ultra_rev01-2-min-300x153.png 300w, https:\/\/microdev.filanda.it\/wp-content\/uploads\/2025\/03\/Microtest_newsletter_Vip-Ultra_rev01-2-min-1024x521.png 1024w, https:\/\/microdev.filanda.it\/wp-content\/uploads\/2025\/03\/Microtest_newsletter_Vip-Ultra_rev01-2-min-768x390.png 768w, https:\/\/microdev.filanda.it\/wp-content\/uploads\/2025\/03\/Microtest_newsletter_Vip-Ultra_rev01-2-min-60x31.png 60w\" sizes=\"auto, (max-width: 1200px) 100vw, 1200px\" \/><\/p>\n<p><em>Ad APEC 2025 (USA), Microtest presenta la proposta Made in Italy per il test dei dispositivi high-power nei settori automotive ed energy storage, per il 5G e i data center<br \/>\n<\/em><em>La nuova piattaforma di test si pone sul mercato come l\u2019unica in grado di eseguire test DC e di stress energetico fino a 4KV con un parallelismo sorprendente<\/em><\/p>\n<p>Altopascio (LU), 17 marzo 2025 \u2013 <strong>Il Gruppo Microtest<\/strong>, leader europeo nella realizzazione di sistemi di test e nel testing di chip su package e su wafer di silicio, <strong>presenta il nuovo tester <\/strong>VIP ULTRA alla <strong>Applied Power Electronics Conference (APEC) 2025<\/strong>, evento rappresentativo dell\u2019elettronica di potenza in svolgimento dal 16 al 20 marzo 2025 presso il Georgia World Congress Center di Atlanta (Georgia, USA).<\/p>\n<p><strong>VIP ULTRA<\/strong>, nuova generazione dello storico prodotto di Microtest VIP Extended, \u00e8 l\u2019ATE (Automatic Test Equipment) destinato al test di dispositivi Wide Band Gap (WBG) realizzati utilizzando semiconduttori composti come il Carburo di Silicio (SiC) e il Nitruro di Gallio (GaN), che hanno dimostrato prestazioni decisamente migliori nell\u2019elettronica di potenza dove \u00e8 richiesta una efficace capacit\u00e0 di gestione di correnti e tensioni di valore elevato. <strong>\u00a0<\/strong><\/p>\n<p>Grazie alla maggiore efficienza energetica ottenuta nel loro utilizzo, i dispositivi realizzati con materiali WGB stanno trovando un largo impiego nel<strong> settore automobilistico e industriale <\/strong>rivolto soprattutto allo sviluppo di tecnologia per<strong> veicoli elettrici e ibridi, gli inverter solari, le infrastrutture 5G e i data center<\/strong>, sempre pi\u00f9 richiesti per supportare le richieste di calcolo delle emergenti applicazioni <strong>AI (Artificial Intelligence) e ML (Machine Learning)<\/strong>.<\/p>\n<p>Dato l\u2019impiego sempre pi\u00f9 esteso dell\u2019elettronica di potenza nel mondo industriale, Microtest ha progettato e sviluppato il <strong>VIP ULTRA, un tester di maggiore flessibilit\u00e0 operativa<\/strong> che offre diverse configurazioni con risorse che raggiungono tensioni 1.7KV (VIP ULTRA HV 1.7KV) o 4KV (VIP ULTRA HV 4KV) e correnti fino a 250A.<\/p>\n<p><strong>Il VIP ULTRA si pone cos\u00ec come l\u2019unica piattaforma di test sul mercato<\/strong> in grado di garantire un completo set di strumenti per l\u2019esecuzione di test DC (Direct Current, a corrente continua) e di stress energetico con un <strong>parallelismo estremamente<\/strong> <strong>elevato<\/strong> (32 nella configurazione 1.7KV e 16 con la 4KV).<\/p>\n<p>Queste innovative caratteristiche lo rendono <strong>particolarmente adatto al test di chip smart e high power <\/strong>eseguiti a livello di wafer di silicio per verificare la corretta funzionalit\u00e0 dei dispositivi integrati prima dell\u2019operazione di taglio (chip dicing), necessaria per isolare e successivamente assemblare il componente integrato stesso.<\/p>\n<p><em>&#8220;Con VIP ULTRA, stiamo portando innovazione nel settore del testing di dispositivi high power con una piattaforma di test pi\u00f9 efficiente e vantaggiosa per il mercato. Sempre pi\u00f9 applicazioni, dal settore Automotive a quello dei data center, richiedono dispositivi elettronici che possano gestire efficacemente elevate quantit\u00e0 di energia. Questo impone anche alle piattaforme di test di evolversi, per supportare tensioni maggiori massimizzando la capacit\u00e0 produttiva. Numerosi attori, privati e governativi, stanno investendo in nuove fabbriche, strutture e centri di ricerca\u00a0per sviluppare nuovi materiali e nuove tecnologie in grado di rispondere alle nuove applicazioni industriali: se fino a dieci anni fa il semiconduttore per eccellenza era il silicio, oggi \u00e8 noto che la sua combinazione col carbonio lo rende pi\u00f9 adatto alle nuove richieste di mercato. Microtest, con la sua lunga e solida competenza nel settore, si propone di rispondere con il nuovo tester VIP ULTRA alle esigenze di un mercato in continua evoluzione\u201d<\/em>, ha dichiarato <strong>Emiliano Consani<\/strong>, Head of ATE Business Unit del Gruppo Microtest.<\/p>\n<p>Ad <strong>APEC 2025<\/strong>, oltre a presentare il VIP ULTRA, Microtest esporr\u00e0 altre soluzioni per il collaudo dell&#8217;elettronica di potenza realizzate dalle due controllate del gruppo: il <strong>MOSTRAK 2<\/strong> della britannica ipTEST e l\u2019<strong>FTI-1000<\/strong> della statunitense Focused Test, presso il <strong>Booth 1142.<\/strong><\/p>\n<p><a class=\"bottoniNewsDownload\" href=\"https:\/\/microdev.filanda.it\/it\/prodotti\/vip-ultra\/\" target=\"\" rel=\"noopener\">Scopri di pi\u00f9 su VIP ULTRA<\/a><\/p>\n<p><a class=\"bottoniNewsDownload\" href=\"https:\/\/microdev.filanda.it\/wp-content\/uploads\/2025\/03\/Microtest_CS-VIP-ULTRA-IT.pdf\" target=\"_blank\" rel=\"noopener\">Scarica il comunicato stampa<\/a><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Ad APEC 2025 (USA), Microtest presenta la proposta Made in Italy per il test dei dispositivi high-power nei settori automotive [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":21173,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[31],"tags":[],"class_list":["post-21176","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-news-it"],"acf":[],"yoast_head":"<!-- This site is optimized with the Yoast SEO plugin v25.5 - 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