Ovenless Burn-In & HTOL solution
自主控制待测器件加热器，最大限度地降低能耗
Microtest 的无烘箱老化测试解决方案是一种强大且创新的老化测试方式，具备最大灵活性，可满足您的各种需求。
原因
产品展示
Microtest 的无烘箱老化测试与高温工作寿命测试（HTOL）解决方案为传统老化测试烘箱提供了一种突破性、环保的替代方案。该系统专为高密度器件测试而设计，能够在无需烘箱的情况下实现每个 DUT 的独立温控，大幅降低能耗、冷却需求和厂房占地面积。
此机架式平台包含一个老化测试系统（BIS）和若干机架，每个机架内设有 24 个插槽，每个插槽最多可容纳 120 个器件 —— 可实现全自动化的大规模老化与 HTOL 测试循环。系统具备更快的升温/降温速度，以及在 DUT 层级的精确温控能力 —— 显著提升测试效率与一致性。
该方案在环保方面表现出色，具备更低的能耗与更小的碳足迹，符合 ESG 与工业 4.0 的可持续发展目标。
整机尺寸约为 2000 mm（高）× 1200 mm（宽）× 1300 mm（深），支持 SECS‑GEM 协议并符合洁净室使用要求，可轻松集成至现有生产线中。其适用范围广泛，涵盖汽车、医疗、MEMS、消费电子、航空航天、国防、工业与功率半导体等多个领域。
总之，Microtest 的无烘箱老化与 HTOL 解决方案融合了先进的热管理技术、可持续运作方式与高吞吐量自动化，为半导体器件的可靠性测试提供了一种更智能、更环保、更高效的平台。
60 sites double Vcore
80 sites single Vcore
120 sites single Vcore
Dimensions
Analog/Power
@0.6-3.6V
@0.6-3.6V
@0.6-3.6V
@0.6-3.6V
@0.6-5.0V
@0.6-3.6V
@1.65 – 5.5 V
@1.65 – 5.5V
@1.65 – 5.5V
Digital
Measurements Instruments
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此应用程序可让您在增强现实中查看部分 Microtest ATE 的 3D 模型。
